microroughness是什么意思，microroughness的意思翻译、用法、同义词、例句
常用词典
微观粗糙度
微粗糙度
例句
The characteristic of microroughness surface scattering and the principle of the microroughness measurement based on scattering detection are briefly reviewed.
本文简述光学表面微粗糙度光散射的基本特性。
专业解析
microroughness（微观粗糙度）指材料表面在微观尺度（通常为亚微米至纳米级别）上的微小不规则起伏或纹理特征。它与宏观粗糙度（如机械加工痕迹）不同，聚焦于更细微的表面形貌变化，直接影响材料的物理、化学及功能特性。以下是详细解释：
一、核心定义与技术意义
微观粗糙度表征表面在极小范围内的峰谷高度差异，其尺度通常小于 1 微米（µm）。在工程与材料科学中，它是评估表面质量的关键参数：
- 精密制造领域：影响光学元件（如透镜、反射镜）的光散射性能；半导体晶圆的表面粗糙度需控制在纳米级，以确保光刻工艺精度。
- 摩擦学应用：微观凸起会增加接触应力，加速磨损或影响润滑效果。
- 生物医学界面：植入体表面的微粗糙结构可调控细胞黏附与组织整合。
二、测量方法与标准
常用量化工具包括：
- 原子力显微镜（AFM）：直接扫描表面形貌，分辨率达原子级，适用于纳米粗糙度分析（来源：NIST《表面计量手册》）。
- 白光干涉仪：通过光波干涉非接触测量，适合微米级粗糙度检测（来源：ISO 25178 几何产品规范标准）。
- 扫描电子显微镜（SEM）：提供表面形貌的直观图像，但需结合其他技术定量分析（来源：Springer《材料表征技术》）。
三、实际影响示例
- 半导体产业：硅片表面粗糙度若超过 0.3 nm，可能导致晶体管漏电（来源：IEEE《电子器件期刊》）。
- 增材制造：金属3D打印件的微粗糙度影响疲劳寿命，需通过抛光或化学处理优化（来源：《Additive Manufacturing》期刊）。
权威参考来源
- 国际标准组织（ISO）：ISO 4287/4288 定义表面粗糙度参数（如Ra, Rz）。
- 美国国家标准与技术研究院（NIST）：发布表面计量技术指南（出版物编号 SP 960-17）。
- 材料研究学会（MRS）：期刊《Journal of Materials Research》涵盖表面工程研究。
（注：因搜索结果未提供直接链接，以上来源机构官网可检索相关文献：ISO官网、NIST官网、MRS官网）
网络扩展资料
microroughness 是一个专业术语，主要用于材料科学、光学或工程领域，指物体表面在微观尺度上的不规则性或粗糙度。以下是详细解释：
1.基本定义
- 词义：由前缀 micro-（微观）和 roughness（粗糙度）组成，直译为“微粗糙度”，强调在极微小尺度（如纳米或微米级别）下观察到的表面不平整性。
- 对比：与宏观粗糙度不同，它涉及更精细的表面结构，可能通过显微镜或精密仪器测量。
2.应用领域
- 材料科学：用于描述金属、半导体等材料的表面特性，影响材料的摩擦、反射等性能。
- 光学：在镜片或光学元件中，微观粗糙度可能导致光散射，降低成像质量（例如提到的“表面散射特性”）。
- 制造工艺：高精度加工（如芯片制造）中需控制微观粗糙度以保证产品性能。
3.发音与词性
- 英式发音：/ˈmaɪkrəʊrʌnəs/
- 美式发音：/ˈmaɪkroʊrʌnəs/
- 词性：名词，无动词或形容词形式。
4.相关术语
- roughness：广义的粗糙度，可指宏观或微观尺度（如、6提到的表面纹理）。
- microhardness：显微硬度，与材料硬度相关但概念不同（见）。
5.例句与测量
- 例句：The microroughness of the silicon wafer affects its efficiency in electronic devices.（硅片的微观粗糙度影响其在电子设备中的效率。）
- 测量方法：可能涉及原子力显微镜（AFM）或白光干涉仪等精密仪器。
该词是高度专业化的术语，常见于学术论文或技术文档。理解时需结合具体上下文，尤其是涉及表面特性分析的场景。
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