
错合度
在材料科学领域,"disregistry"(中文译为位错失配度或晶格失配度)指两种晶体结构在界面处的原子排列不匹配程度。例如,当两种不同材料(如金属与半导体)或同一材料的不同晶相接合时,若晶格参数存在差异,界面处会因原子间距或排列方式不协调而形成失配,这种几何差异的量化值即为disregistry。
从力学角度,disregistry可通过公式表示为:
$$ delta = frac{|a_1 - a_2|}{(a_1 + a_2)/2}
$$
其中,(a_1)和(a_2)为两相材料的晶格常数。该参数直接影响界面应力、位错密度等特性,是半导体异质结、金属复合材料等设计的关键指标。
引用来源:
"disregistry"是一个专业术语,其含义和用法如下:
1. 核心词义 该词主要表示错合度或错配度,常见于材料科学、晶体学等领域,用于描述两种结构(如晶体界面、位错等)之间的不匹配程度。
2. 发音与词源
3. 应用场景 在学术文献中,该术语常用于:
4. 补充说明 虽然-6主要解释registry(登记处/注册处),但通过对比可知disregistry 是专业领域通过添加否定前缀衍生的特殊术语,与普通词典中的"registry"含义有明显区别。
建议在学术文献中结合上下文理解该词,如需具体数值计算案例,可参考材料科学相关专著或论文。
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