读出电子束英文解释翻译、读出电子束的近义词、反义词、例句
英语翻译:
【计】 reading beam
分词翻译:
读出的英语翻译:
numerate
【计】 read-out
【经】 read off; read out
电子束的英语翻译:
【计】 E beam
【化】 electron beam
【医】 electron beam
专业解析
在电子工程与真空技术领域,"读出电子束"(Readout Electron Beam)指利用聚焦电子束扫描目标表面并检测其反馈信号,以实现信息提取或成像的技术。其核心原理是通过阴极发射电子,经电场加速和电磁场聚焦形成高能细束,轰击被测物体表面激发出二次电子、背散射电子等信号,最终转化为可读数据。以下是具体解析:
一、术语定义与工作原理
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汉英对照释义
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工作流程
- 发射:阴极(如钨丝或场发射源)受热或电场激发释放电子。
- 聚焦:电磁透镜将电子束压缩至纳米级直径(例:SEM分辨率达1nm)。
- 扫描与反馈:偏转线圈控制电子束逐点扫描样品,探测器捕获二次电子/X射线等信号。
- 信号转换:光电倍增管或半导体探测器将粒子信号转为电信号,经放大后成像或输出数据。
二、典型应用场景
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成像系统
- 扫描电子显微镜(SEM):通过电子束扫描样品表面,依据二次电子强度生成微观形貌图像,广泛应用于材料科学和生物学。
- 阴极射线管(CRT):电子束轰击荧光屏激发可见光,实现图像显示(早期电视/示波器核心技术)。
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数据存储与读取
- 电子束光刻:在半导体制造中直写纳米级电路图案(如ASML光刻机部分技术衍生自电子束控制)。
- 真空微电子器件:用于高精度传感器和微波放大器中的电子束调控。
三、技术优势与物理特性
- 高分辨率:电子波长(~0.01Å)远小于可见光,支持亚纳米级观测(对比光学显微镜极限~200nm)。
- 实时动态分析:可观察材料在加热、拉伸等过程中的微观变化(例:原位SEM实验)。
- 信号多样性:通过检测不同反馈信号(如特征X射线)同步获取成分与形貌信息(EDS分析)。
参考文献与权威来源
- 扫描电子显微镜原理
美国国家标准与技术研究院(NIST)
- 电子束技术发展
IEEE电子器件协会
- 真空电子学基础
英国物理学会(IOP)电子束应用综述
(注:部分链接因平台限制无法实时验证可用性,建议通过学术数据库如IEEE Xplore或IOPscience检索最新文献。)
网络扩展解释
由于未搜索到与“读出电子束”直接相关的资料,以下基于该词组的常规技术背景进行解释:
“读出电子束”可能的含义解析:
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基本概念
- 电子束:指在真空环境中,由电子枪发射并经过聚焦形成的高速电子流,常见于示波器、电子显微镜、粒子加速器等设备。
- 读出:指通过传感器或探测器获取并转换信号的过程。
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技术应用场景
该词组可能指以下两种场景:
- 电子显微镜中的信号采集:电子束扫描样品时,探测器接收二次电子或背散射电子,将物理信号转化为电信号,最终生成图像(类似“读出”数据)。
- 存储设备的数据读取:某些高密度存储技术(如早期EBAM)利用电子束扫描存储介质,通过检测电子反射或透射状态来“读出”存储信息。
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可能的混淆点
- 若涉及粒子物理实验,“读出”可能指对加速器中电子束参数的实时监测(如强度、位置等)。
- 若为笔误或简写,需结合上下文进一步确认(例如“电子束读出技术”可能指电子束作为探测手段的传感方法)。
建议:若该术语源自特定领域(如某篇论文或设备手册),建议提供更多上下文,以便更精准地解释其定义与应用场景。
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